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气体检测滤光片


产品特点 气体检测设备应用的红外带通滤光片主要以单晶硅为基片,在基片表面交替镀制锗和硒化锌材料薄膜,使用于红外特征敏感元件系统。我们可提 供不同特定波段的红外带通滤光片,膜层具有高截止率、高透过率,膜层牢固,光洁度好,吸收小等优点,性能稳定可靠。 应用领域 测温特征敏感元件、气体探测器、光学探测器


产品介绍

产品指标 
规格尺寸:圆形中3mm~φ200mm,成品尺寸:2.9*2.9*0.5mm,可依据客户要求定制。
基片材料:Si硅、Ge 锗
外观标准:40/20
面型标准:1/4λ
公差标准:±0.03

项 目

入射角度

波长范围

光学指标

BPF2.7~3.1

AOI:0°

1.5~5.5um

1.5~2.6umT<1%,2.7~3.1um            T>90%,3.2~5.5um            T<1%

BPF3.6~4.9

AOI:0°

1.5~7.5um

1.5~3.4um        T<1%,3.6~4.9um        T>90%,5.1~7.5um        T<1%

BPF3.4

AOI:0°

0.38~12um

CWL3.4±0.04um,Tpeak>85%;FWHM:<0.15um;0.38~12umT<1%

BPF4.25

AOI:0°

0.38~12um

CWL4.25±0.04um,Tpeak>85%FWHM:<0.18um;0.38~12umT<1%

 

高可靠性:

项 目

测试条件

附着力

百格,3M610胶带拉膜,无脱膜

湿热

50±2℃,90~95%RH,保存24H,膜层完好 

冷热冲击

-60±2℃,+70±2℃各保持2H,室温(16~32℃)静止后,膜层完好

水溶性

室温(16~32℃)下,蒸馏水浸泡24H,膜层完好

关键词:精密光学

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